当前位置: CompoTech China > 专题 > 专题报道 >
 

NEC 量测入选 IEC 国际标准,对策组件更精准

本文作者:任苙萍       点击: 2017-08-16 11:12
前言:
 

在部署车联网 (IoV) 之前,须留意车体内部高频组件及天线、马达摆放位置可能引发电磁干扰 (EMI) 与电磁兼容性 (EMC) 问题;若能在原型 (prototype) 设计之初就善用模拟工具,将有助提升系统质量。通过"仿真驱动产品开发"(Simulation Driven Product Development, SDPD) 辅助,飞机或汽车系统可藉自动化软件程序仿真信号并微调参数,不一定要真实撞击测试,就能先行摒除重大设计瑕疵。有别于土法炼钢的手动操作,软件仿真量测能直接分析出电路板的症结根源,实时修正并获知改善效果,更具效率。
 
世人对于日本电气株式会社 (NEC) 的认识多缘于消费电子,但其实它也是量测仪器的重要供货商,一开始是基于自用需求、为减少自有产品的 EMI 发展而来,"磁场探棒"是其最早的研发成果。NEC 企业事业服务及技术部门助理经理 Mikio Kikuchi (菊池美喜雄) 表示,由 NEC 开发的磁场探棒技术规范已提交 IEC 组织,先后正式名列 IEC61967-6 国际标准及 IEC61967-3 技术规范,毫无悬念,NEC 自家"EMC 可视化扫描仪系统"理所当然具有国际水平——磁场探棒符合 IEC61967-6、扫描仪符合 IEC61967-3。
 

照片人物:NEC 嵌入式业务部门资深经理 Takashi Kudo (左)、企业事业服务及技术部门助理经理 Mikio Kikuchi (中)、营业本部明石京 (右)
 
高频、高速、低电压、微型化,电路板设计挑战大
菊池认为,随着自动驾驶功能增多,在高频、高速、低电压及微型化驱使下,EMI 挑战也越大;藉由实验室的电波暗室测量 EMI,只能初步判断是否合乎法规要求。菊池强调,如果在某些频率点出现超标,就得借助磁场探棒扫描,才能确切查找异常状况及原因,据以修改设计;磁场探棒也是评估"对策组件"是否有效的必要工具,以图 1 为例,将磁场探棒分别放置在电容两端,即红色和蓝色标记处,所对应的噪声表现大不相同,红色位置的噪声明显较大,约有 20dB 的差距,证明该电容已发挥抑制 EMI 的作用。另一个范例是用来量测硬盘或内存的读写噪声,如图 2 所示,在不同频率下的噪声形式各异。
 

图1:NEC磁场探棒量测示例
资料来源:NEC提供
 

图2:EMI 可视化系统量测示例
资料来源:NEC提供
 
结果显示,在 960 MHz 频率下,高次谐波成分较高,且有向外辐射的迹象。以此类推,可用来评估芯片或模块的噪声质量。除了 CP-2SA 和 MP-10LA 两种基本款探棒,NEC 还针对特高频或低频应用,另提供 AEKP001、APLMP001 和 AEMP002 等三款产品。菊池提醒,磁场会因远、近而不同——近场随信号电流变动、远场受电流和回流环路影响,而引发四种天线效应:环形天线、贴片天线、偶极天线/单极天线、缝隙天线。关于近场、远场 EMI 数值可能不一致、特别是低频组件未必会辐射到远场的现象,菊池一语道出机关所在。
 

图3:NEC磁场探棒规格
资料来源:NEC提供
 
"一般近场辐射值会大于远场,但由于国际标准是针对某个受测定点评估,假如近场辐射已符合标准且未外溢至远场,自然就合格;两者数值不一,并不冲突",菊池解释。藉由 NEC"EMIStream+EMC 扫描仪"协作,可协助突破电路板设计障碍。菊池介绍,EMIStream 是一个软件工具,能在电路板开发之初就消除 EMI,高速响应、经过验证、使用简单、不须破坏电路板即可检测为其特色。菊池指出,IC 高速化、电路板设计越来越复杂,使 EMI 及系统整合难度有增无减;然而,长期以来,皆须依靠 EMI / EMC 专家手动检查所有设计。
 
高精度 EMC 扫描仪将 EMI、ESD 可视化,更加清晰可辨
另一方面,为抑制 EMC 所额外添加的组件会提高整体物料成本 (BoM Cost);至于是否真的需要添加?该选用何种组件?多只依赖经验。虽然通过模拟也可检查 EMI,却常遭遇以下困扰:需要 EMI 专家辅助、模型取得不易、CAD 数据模式化存在诸多限制,以及工程耗时长。"EMIStream 的主要功能有二:可做 13 种电流回路/电源层/布线检查等 EMI 规则检查,以及电源层/接地层的谐振分析;亦可用于电路板布线前,及早检查板上组件布局的 EMI 强度、找出错误点,以作为挪移错误区域电路的依据、减少错误数量",菊池说明。
 

图4:EMC 可视化系统量测 EMI 时之系统配置与连接示意图
资料来源:NEC提供
 
例如,检查回流电流路径是否连续?若呈现不连续状态,表示信号完整性遭到破坏,恐造成系统误动作;此时,可再以磁场探棒贴近实测回流电流做细部诊断,高精度 EMC 扫描仪——4EM500,会将测得之 EMI 可视化;用户亦可将扫描结果导入 EMIStream,合并检视。4EM500 还可量测静电放电 (ESD),静电仿真器 (放电枪) 由 PC 控制、在定点放电后,在放电点放置感知放电用的探棒作为"触发器",扫描位置上的放电电压 (磁场),相关输出可从示波器观测,而扫描结果会依"时间轴"、藉图像方式清晰传达。
 
假如板上组件至直流电源的流动变短,意谓已施加 ESD 保护。特别一提的是,4EM500 具"激光测高计",除了平面量测,亦可记录板上组件的高度做"凹凸"量测,扫描时可根据组件高度自动调节,并将组件不同摆放方向的 X、Y 轴,或近场、远场测量结果合并在同一个画面,便于用户一目了然频率特性:若远场和近场的辐射频率一致,就需要电路板的噪声对策;但若只有来自于电路板的磁场,则意味着没有天线效应。此外,受惠于探棒灵敏度,扫描结果会有分布差异,能应对高频磁场探棒的"空间分辨率"要求——CP-2SA 探棒可检测 10MHz~3GHz 频率区间,并聚焦于 0.25mm 极小范围、更容易发现不易察觉的病灶。
 

图5:EMC 可视化系统量测 ESD 时之系统配置与连接示意图
数据源:NEC提供